JDZ-2弱磁梯度測(cè)量儀說(shuō)明書(shū)

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

JDZ-2多功能弱磁場(chǎng)測(cè)量儀是一款采用磁通門(mén)原理測(cè)量弱磁測(cè)量的精密儀器，具有

操作簡(jiǎn)便、工作穩(wěn)定、讀數(shù)可靠的多功能測(cè)量?jī)x器，是實(shí)驗(yàn)室、野外測(cè)量?jī)x器；主要用于航天、航空、石化、電子、機(jī)械、鉆探、材料、鑄造等工業(yè)的的

無(wú)損檢測(cè)、探測(cè)；適用于實(shí)驗(yàn)室、野外的弱磁場(chǎng)梯度、磁場(chǎng)差的測(cè)量和比較。

二、弱磁場(chǎng)差分（弱磁梯度）測(cè)量應(yīng)用:

1.永磁材料、軟磁材料等退磁后的微弱剩磁測(cè)量。

2.防磁罩、屏蔽罩等表面漏磁強(qiáng)度測(cè)量、外表面分布磁場(chǎng)測(cè)量。

3.磁場(chǎng)屏蔽防護(hù)效果檢查、漏磁大小、微弱干擾源定位。

4.檢測(cè)、定位實(shí)驗(yàn)室周?chē)判圆牧弦苿?dòng)對(duì)磁場(chǎng)干擾的影響。

5.精密零件應(yīng)力分布檢測(cè)、精密零件表面磁場(chǎng)梯度檢測(cè)，用于零件淬火、精密鑄造、

精密鍛造、機(jī)械加工后的裂紋無(wú)損檢測(cè)、零件空洞缺陷的無(wú)損檢測(cè)等。

三、弱磁場(chǎng)差分（弱磁梯度）測(cè)量參產(chǎn)品參數(shù)特點(diǎn):

1.測(cè)量范圍:0~±199.999uT.

2.有效分辨率:0.00001uT.

3.測(cè)量誤差：±1%

4.符合國(guó)家JJF1519-2015磁通門(mén)差分磁強(qiáng)計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范。

5 .探頭標(biāo)配為20mm差值探頭（按使用要求定制）

6 .自校準(zhǔn)參數(shù)69.8uT*5%

注：.測(cè)量磁場(chǎng)差時(shí)，儀器顯示的讀數(shù)為當(dāng)前20mm之間的磁場(chǎng)差值。

四、操作說(shuō)明：

1. 本機(jī)操作簡(jiǎn)單，5個(gè)按鍵從左到右依次為“設(shè)置"、“選項(xiàng)"、“發(fā)送"、“校

        驗(yàn)"、“清零"，最下面位探頭插口、觸摸電源開(kāi)關(guān)。

2. 磁場(chǎng)差（弱磁梯度）測(cè)量：開(kāi)機(jī)進(jìn)入弱磁梯度測(cè)量模式（屏幕左上角顯示“弱磁

梯度測(cè)量"，右上角顯示“uT"），顯示值為弱磁梯度；

3. 精密測(cè)量、校驗(yàn)時(shí)，須把探頭固定（轉(zhuǎn)動(dòng)探頭顯示最小），按“清零"鍵顯示為

“0"，此時(shí)探頭前的磁場(chǎng)變動(dòng)，屏幕顯示的數(shù)據(jù)即為弱磁梯度。

4. 弱磁梯度校驗(yàn)（校驗(yàn)時(shí)探頭須固定）：按“校驗(yàn)"鍵（當(dāng)顯示為0時(shí)），屏幕右

上角顯示“uT"的變?yōu)榉春?/span>“對(duì)比"，此時(shí)顯示的與出廠時(shí)給定的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字接近時(shí)

即儀器測(cè)量正常，測(cè)量、校準(zhǔn)前要關(guān)閉。

5. 弱磁梯度校準(zhǔn)：按“設(shè)置"鍵進(jìn)入校準(zhǔn)頁(yè)（屏幕左上角顯示“弱磁梯度校準(zhǔn)"，

右上角顯示反黑“對(duì)比"），上列數(shù)字行為實(shí)時(shí)測(cè)量值，下列數(shù)字行為標(biāo)準(zhǔn)值，按

“選項(xiàng)"鍵移動(dòng)光標(biāo)，按“發(fā)送"鍵可更改光標(biāo)下的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，等數(shù)值穩(wěn)定后按“校

驗(yàn)"鍵校準(zhǔn)，上列數(shù)字行與下列數(shù)字行接近后，即校準(zhǔn)完畢；校準(zhǔn)完畢：再按“設(shè)

置"返回測(cè)量界面。

五、遠(yuǎn)程測(cè)量、校準(zhǔn)格式：

1.通訊模式：RS485,數(shù)據(jù)傳輸模式：9600 8N1

2.通訊協(xié)議：

發(fā)送16進(jìn)制B6666660：在“測(cè)量"頁(yè)面時(shí)，返回的是讀取的測(cè)量數(shù)據(jù)；

發(fā)送16進(jìn)制B6666661：同磁弱磁梯度的“校驗(yàn)"鍵，返回字符“NO"和字符“EN"；

        發(fā)送16進(jìn)制B6666662：同測(cè)量頁(yè)面的“清零"鍵,返回的是清零后的數(shù)據(jù)；

3. 數(shù)據(jù)格式：

4. 磁場(chǎng)差（弱磁梯度）測(cè)量數(shù)據(jù)：CC+5位序號(hào)+ 6位測(cè)量數(shù)據(jù)+uT

六、使用說(shuō)明：

儀器開(kāi)機(jī)需要預(yù)熱10分鐘以上。

1. 儀器、探頭屬敏感器件，須嚴(yán)格管理，使用時(shí)應(yīng)輕拿輕放，不可敲打或撞擊。

2. 儀器探頭嚴(yán)禁測(cè)量或接觸鐵、磁物材料。

3. 測(cè)量完畢后應(yīng)及時(shí)套上探頭防護(hù)蓋，以防探頭接觸鐵磁物。

4. 儀器保管時(shí)，儀器、探頭要遠(yuǎn)離鐵、磁材料、零件等。

5. 出廠時(shí)經(jīng)過(guò)嚴(yán)格校準(zhǔn)，不要隨意打開(kāi)。否則，儀器需返廠重新校準(zhǔn)。

6. 探頭漂移、測(cè)量靈敏度下降后續(xù)返廠修理或更換。

7. 為了保證儀器測(cè)量準(zhǔn)確度，儀器必須定期校準(zhǔn)。

七、售后維護(hù)：

1. 儀器保修2年，保修期內(nèi)非人為造成除外。

2. 儀器需返廠校準(zhǔn)和維修時(shí)，儀器和探頭一并寄回。